美國ST5300HX替代品易恩半導體分立器件測試系統如何
概述：西安易恩電氣 EN-2005B功率器件綜合測試系統，設備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品質范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插
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美國ST5300HX替代品易恩半導體分立器件測試系統如何
EN-2005B功率器件綜合測試系統
系統特征
測試范圍廣（19總大類，27分類）
升級擴展性強，通過選件可提升電壓電流，和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V，1250A
采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定300uS
被測器件引腳接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統自動停止測試，確保被測器件不受損壞
真正的動態跨導測試。（主流的直流方法測動態跨導，其結果與器件實際偏差很大）
系統故障在線判斷修復能力，便于應急處理排除故障
二極管極性自動判斷功能，無需人工操作
主極電壓: 10mV-2000V
主極電流： 100nA-50A
擴展電流： 100A、500A、1000A、1300A
電壓分辨率： 1mV
電流分辨率： 1nA
測試精度： 0.2%+2LSB
測試速度： 0.5mS/參數
系統功耗： <150w
質 量： 35KG
尺 寸： 450x570x280mm
通信接口： RS232 USB
工作溫度： 25-40°C
測試范圍
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測試范圍 / 測試參數 |
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序號 |
測試器件 |
測試參數 |
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01 |
二極管 DIODE |
IR；BVR ；VF |
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02 |
晶體管 （NPN型/PNP型） |
ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO； BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF |
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03 |
J型場效應管 J-FET |
IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON； IDSS；GFS；VGSOFF |
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04 |
MOS場效應管 MOS-FET |
IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS； VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS |
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05 |
雙向可控硅 TRIAC |
VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH- |
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06 |
可控硅 SCR |
IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM； IGT；VGT；IL；IH |
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07 |
絕緣柵雙極大功率晶體管 IGBT |
ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON； VGEON；VF；GFS |
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08 |
硅觸發可控硅 STS |
IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ； VPK-；VGSW+；VGSW- |
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09 |
達林頓陣列 DARLINTON |
ICBO； ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO； BVCER；BVCEE；BVCES ；BVCBO；BVEBO；hFE ； VCESAT； VBESAT；VBEON |
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10 |
光電耦合 OPTO-COUPLER |
ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO； CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode) |
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11 |
RELAY |
RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME |
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12 |
穩壓、齊納二極管 ZENER |
IR；BVZ；VF；ZZ |
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13 |
三端穩壓器 REGULATOR |
Vout；Iin； |
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14 |
光電開關 OPTO-SWITCH |
ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF |
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15 |
光電邏輯 OPTO-LOGIC |
IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF |
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16 |
金屬氧化物壓變電阻 MOV |
ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ； |
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17 |
固態過壓保護器 SSOVP |
ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、 IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- |
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18 |
壓變電阻 VARISTOR |
ID+； ID-；VC+ ；VC- |
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19 |
雙向觸發二極管 DIAC |
VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-, |
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