碳化硅微管瑕疵檢測偏光儀PSV-590
概述：
單色光（晶圓、晶片、晶體）偏光應力儀PSV-590
適用范圍：
l適合于檢測透明玻璃或燈等有復雜構造的產品。
l檢測高密度的塑料產品，如隱形眼鏡等。
l檢測光學
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單色光（晶圓、晶片、晶體）偏光應力儀PSV-590
適用范圍：
l 適合于檢測透明玻璃或燈等有復雜構造的產品。
l 檢測高密度的塑料產品，如隱形眼鏡等。
l 檢測光學晶體晶片，如氟化鈣、碳化硅、光學透鏡等
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型號 |
PSV-590 |
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尺寸 |
W280×D385×H390mm |
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重量 |
11Kg |
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測樣有效長度 |
W200×D200mm |
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測量空間高度 |
max240mm |
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光源 |
590nm橙光 50w |
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電源 |
直流24V（帶有220V適配器） |
- ptc17118發布的信息
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